基于边界扫描（JTAG）测试系统，也称为Boundary Scan Test (BST)既可以独立运行，也可以集成于ICT与FCT一体运行。
常规的功能测试可能遇到一些局限性，如：
测试覆盖率较低，受产品固件限制，很多接口并未完全开放用于测试目的；
基于知识产权保护意识，一些通讯私有协议并不对外开放用于测试目的；
受电路板体积限制，并不能设置足够多的测试点，从而影响功能测试覆盖率；
缺乏对集成度高的大规模逻辑芯片的内部逻辑测试覆盖
而通过引入边界扫描的测试技术则能解决一些问题与弊端，如
通过JTAG通用接口电路控制被测电路板状态
通过专用接口，自有逻辑算法设计避开私有协议
通过芯片级的扫描测试，减少对测试点的依赖
设计扫描算法，通过专用接口电路完成对大规模集成电路的数字逻辑测试覆盖，比如DDR，Flash等等
通过外围测试电路的搭建，同时也能完成外围电路的集成测试，如ADC、光耦隔离电路等等
根据客户的需求与预算，我们提供完整的且具性价比的边界扫描（JTAG，BST）技术解决方案。我们提供手动，半自动，全自动以及支持二次开发SDK开发包的完整解决方案（现阶段绝大部分方案商为了垄断市场均不开放SDK开发包）。欢迎有此需求的客户与我们联系。
